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TZTFE-2000薄膜铁电测试仪的详细资料 | ||||||||
TZTFE-2000薄膜铁电测试仪
TZTFE-2000薄膜铁电测试仪是一款应用于薄膜材料的铁电性能测试的设备,该设备具有动态电滞回线(DHM)、I-V特性、脉冲(PUND)、静态电滞回线(SHM)、疲劳(FM)、漏电流(LM)、电流-偏压、保持力(RM)、印迹(IM)的测试功能.,可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。 TZTFE-2000薄膜铁测试仪与探针台配套使用,可实现薄膜的铁电性能测试。动态电滞回线测试频率和激励测试电源,用户可根据需要进行选择,动态电滞回线测试频率范围为1mHz~500kHz可选,激励测试电源±10/30/100/200/500VAC可选,也可根据用户需要进行定制。 TZTFE-2000薄膜铁测试仪本测试系统由主控器、探针台、计算机及系统软件部分组成。主控器集成了内置激励测试电源、电荷积分器、可编程放大器、模数转换器、通讯总线等功能,系统软件包括可视化数据采集和管理功能,测试时,无需改变测试样品的连接,即可实现滞回,脉冲,漏电,IV等性能测试。 本测试系统铁电性能测试采用改进的Sawyer- Tower测量方法,与传统的Sawyer- Tower模式相比,此电路取消了外接电容,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度,减少了对测试的影响环节,容易定标和校准,并且能实现较高的测量准确度。
本系统提供外接高压放大器的接口,对于需要做高压测试、高压漏电流测试 的用户,可直接扩展此功能。 用户选择此款设备,需向厂家提供测试频率、激励测试电压等要求。 测试功能: · 动态电滞回线(DHM) · I-V特性 · 脉冲(PUND) · 静态电滞回线(SHM) · 疲劳(FM) · 漏电流(LM) · 电流-偏压 · 保持力(RM) · 印迹(IM) 可扩展部件: · 探针台 · 主要技术参数: 1.电压范围(内置电压):±40V,(可外接高压放大器,最大10KV); 2.ADC位数:18; 3.最小电荷分辨率:≤10fC; 4.最大电荷分辨率:276μC; 5.最大电滞回线测试频率:0.03Hz~300KHz; 6.最小电滞回线测试频率:0.01Hz; 7.最小脉冲宽度:1μs; 8.最小脉冲上升时间:50μs; 9.最大脉冲宽度:1μs; 10.额定功率:≥500W; 11.设备总电源方式:AC:220V; 12.配备JKTD型探针台(尺寸:直径30mm,材质:铜,线缆:同轴线/三轴线;) 13.漏电精度:1pA; 14.固定探针:弹簧固定/管状固定; 15.接头类型:BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子。 选配高压功率放大器: 1.输出电压:-200~200V 2.输出电流:-100~100mA 3.大信号带宽:DC≥500KHz/s 4.小信号带宽:DC≥10kHz(-3dB) 5.随时间稳定性:50ppm/小时; 6.随温度稳定性:200℃; 7.精度:≤0.1%满量程; 8.设备带有TTL接口; 9.设备带有远端控制BNC接口; 10.供电:220V,50Hz。 |
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