CTM-1000电运输性质测试系统可以进行霍尔效应、R-H 特性、R-T 特性和 I-V 特性的测量， 可得出参数：方块电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度和导电类型，可绘制以上参数随温度或磁场的变化曲线，以及 I-V 特性——不同磁场和不同温度下的 I-V 特性曲线，R-H 特性——固定温度，电阻随着磁场变化的特性曲线，R-T 特性——固定磁场，电阻随着温度变化的特性曲线。

一、电输运性质测量系统主要特点:

电输运测试系统可测试材料:

一、半导体材料：

二、  Si、Ge、GaAs、GaN、AlGaAs、CdTe、HgCdTe、CdTe、ZnO、SiC、GeSi、InP、MCT等，以及弱磁半导体和稀磁半导体的薄膜及块材；

三、  铁氧体材料；

四、  低阻抗材料：金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等。

二、电输运性质测量系统主要特点:

1）标准系统使用插入式样品夹具，样品安装方便；

2）基本配置一次最多可以加装四个样品， 并同时可以对两个样品进行测试；

3）标准系统随机配送一个探针样品卡；

4）标准系统可以进行不同磁场下的霍尔效应、I-V特性的测量；

5）电阻测量范围宽：0.1mΩ—50GΩ（高阻系统），测量的不确定度为2%；

6）测试过程和计算过程由软件自动执行，节省了大量的时间；

7）软件可以显示测量结果和测量曲线；

8）系统磁场采用闭环控制，可以提供高稳定性的磁场， 同时解决了磁铁剩磁问题，实现真正的零磁场；

9）选择变温选件，可以进行不同温度下的霍尔效应测量和I-V特性测量。

二、主要技术参数：

一、物理学参数：

1.迁移率：1~1×106cm2/vs

2.载流子浓度：6×1012 ~ 6×1023cm-3

3.霍尔系数：±1×10-5 ~±1×106cm3/C

4.电阻率：5×10-9 ~ 5×102Ω·cm

二、电学参数

1.电阻：0.1mΩ ~ 10MΩ

2.电流源：±50pA~±1A(±1.05A@±21V, ±105mA@±210V)

3.电压源：±5μV~±200V(±21V@±1.05A, ±210V@±105mA)

4.电流测量：±10pA~±1.05A（10pA 为最小分辨率）

5.电压测量：±1nV~±100V（1nV 为最小分辨率）

三、液氮恒温器

1.温度范围：80-500K；

2.控温精度：±0.1K；

3.配合霍尔系统可进行低温霍尔测试；

4.配合控温仪和软件使用需具备线性扫温功能；

四、控温仪

1.一路控温，控温精度±0.1K；

2.一路加热，最大加热功率50w；

3.三档加热输出，PID控温；

4.可远程控制，带Labview驱动及温度控制软件；

5.与液氮恒温器配套使用；

四、机械泵

1.配套机械泵，抽速4L/s；

2.配备波纹管、卡箍等所需真空附件；

与液氮恒温器配套使用。