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| JK-CH600190-XRD冷热台的详细资料 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
JK-CH600190-XRD冷热台   JK-CH600190-XRD冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，提供-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，适配现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）。 产品需要与温度控制器、致冷控制器（选配）配套使用，配套的上位机温控软件方便进行温度设置及采集，提供的Labview Vis方便客户进行定制化编程。 产品特点： 温度范围-190~600℃（选型）/RT~1000℃（选型） 温度稳定性±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃） 衍射角0～164° X射线视窗Kapton膜 支持反射/透射模式 密腔室设计，可升级真空腔室（10^(-3) mBar） 可更换上盖，作为普通冷热台使用 可调节高度，满足不同厚度样品测试更换上盖，可用作光学冷热台，实现一机多用 详细参数一览表：
产品应用： 搭配理学X射线衍射仪 ↓ 搭配赛默飞X射线衍射仪 ↓
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