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BMCS-20 薄膜材料参数测试系统的详细资料 | ||||||||||||||
BMCS-200型薄膜材料参数测试系统 关键词:薄膜介电,,200度
测试主机 薄膜测试平台 BMCS-200型薄膜材料参数测试系统应用于高低温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析,通过配置不同的测试设备,完成不同参数的测试。是一代高低温电阻系统,性能优越,完全科研级别的测试装置,是科研院所和高等学府的设备。 一、主要用途: 1、测量以下参数随温度(T)、频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律: 2、测量电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(¢)、电导(G)、电纳(B)、导纳(Y)、损耗因子(D)、品质因素(Q)等参数, 3、同时计算获得反应材料导电、介电性能的复介电常数(εr)和介质损耗(D)参数。 4、可测试低温环境下材料、器件的介电性能 5、测试聚合物压电薄膜的谐振频率、谐振阻抗、电容、频率响应曲线等参数。 二、主要技术参数: 1、温度范围 室温-200℃ 2、测温精度 0.1℃ 3、升温速度 1—20。C/min 4、控温模式 程序控制,提供常温、变温、恒温、升温、降温等多种组合方式 5、通讯接口 RS-485/232 7、测试频率 20Hz~1MHz 8、电材质 银合金电 9、测量精度:0.1%; 10、保护电 带保护电,消除寄生电容、边界电容对测试的影响 11、电干扰屏蔽 电引线带同轴屏蔽,样品平台带屏蔽罩 12、软件功能:自动分析数据,可以分类保存,样品和测量方案结合在一起,生成系统所需的实验方案,输出TXT、XLS、BMP等格式文件 13、测量方案 提供灵活、丰富的测试设置功能,包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合 15、外形尺寸 L360mm*W370mm*H510mm 16、净 重 22KG
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