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产品名称：供应ZEM-5热电性能分析系统

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日期:2024-09-18

供应ZEM-5热电性能分析系统的详细资料

ZEM-5热电性能分析系统

技术特点：

· 适用于研究开发各种热电材料和薄膜材料，提高测量精度

· 温度检测采用C型热电偶，适合测量Si系列热电材料(SiGe, MgSi等) *HT型

· 真正可测基板上的纳米级薄膜（TF型）

· zui大可测10MΩ高电阻材料

· 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表

· 基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2)

	ZEM-5HT	ZEM-5HR	ZEM-5LT	ZEM-5TF
特点	高温型	高电阻型 zui大电阻：10MΩ	低中温型	薄膜型可测在基板上形成的热电薄膜
温度范围	RT-1200℃	RT-800℃	-150℃-200℃	RT-500℃
样品尺寸	直径或正方形：2 to 4 mm²；长度3 ～ 15mm			成膜基板：宽2-4mm，厚0.4-12mm，长20mm 薄膜厚度：≥nm量级薄膜样品与基板要求缘
控温精度	±0.5K
测量精度	塞贝克系数：＜±７％；电阻系数：＜±７％
测量原理	塞贝克系数：静态直流电；电阻系数：四端法
测量范围	塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K；电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ
分辨率	塞贝克系数：10nV/K；电阻系数：10nOhm
气氛	减压Ｈｅ

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