BKTEM-Dx热电性能分析系统

关键词：热电材料，Seebeck系数，电导率， 电阻率，V-1装置

产品介绍：

   BKTEM-Dx热电性能分析系统是我国热电材料的领军设备，是材料计

划中前沿装备，是我国科研人员几十年的精心参与和设计出来的热电材料

测试仪，其测试性能远超越外热电材料测试仪，不仅可以用于块体材

料同时也可以用于薄材料的测试，是目前高等院校和材料研究所的重要设

备。

对于热电材料的研究，热电性能测试是不可或缺的试验数据。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。主要原理和特点如下:

该装置由，高灵敏度温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温，采用四点法的方式测定半导体材料及热电材料的Seebeck系数及电导率、电阻率。试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。

一、适用范围：

1、地测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。

3、块体和薄膜材料测均可以测试。

4、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。

5、拥有自身分析软件，分析，过程自动控制，界面友好。

6、高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。

7、汽车和燃油、能源利用效率、替代能源领域、热电制冷.
8、很多其他工业和研究领域-每年都会诞生新的应用领域.

二、技术特点：

·解决高温下温控精度不准的问题，静态法测量更加直观的了解产品热电材料的真正表征物理属性。

·     温度检测可采用J、K型热电偶，降低测试成本。

·试样采用独特的焊偶机构，保证接触电阻zui小以及测量结果的高重现性。

·     每次可测试1-3个样品.

·     采用数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差，可控温场下同步测量赛贝克系数和电阻率。

三：主要技术：

测量温度：室温-600℃,800℃,1200℃ 可选

同时测试样品数量：1个，2个，3个 可选

控温精度：0.5K（温度波动:≤±0.1℃）

测量原理：塞贝克系数：静态直流电；电阻系数：四端法

测量范围：塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K；电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率：塞贝克系数：10nV/K;电阻系数： 10nOhm

测量精度：塞贝克系数：＜±6％；电阻系数：＜±5％

样品尺寸：块体方条形：2-3×2-3 mm×10-23mm长，薄膜材料：≥50 nm

热电偶导距: ≥6 mm

电   流: 0 to 160 Ma

气   氛：0 to 160 mA

加热电相数/电压：单相，220V，

夹具接触热阻：≤0.05 m²K/W