JK-CH600190-XRD冷热台
JK-XRD原位冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，提供-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，适配现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）。
产品需要与温度控制器、致冷控制器（选配）配套使用，配套的上位机温控软件方便进行温度设置及采集，提供的Labview Vis方便客户进行定制化编程。
产品特点：
温度范围-190~600℃（选型）/RT~1000℃（选型）
温度稳定性±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）
衍射角0～164°
X射线视窗Kapton膜
支持反射/透射模式
密腔室设计，可升级真空腔室（10^(-3) mBar）
可换上盖，作为普通冷热台使用
可调节高度，满足不同厚度样品测试换上盖，可用作光学冷热台，实现一机多用
详细参数一览表：
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XRD原位冷热台
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JK-CH600190XV
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JK-H1200XV
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温控模块
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冷热方式
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液氮致冷，电阻加热
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电阻加热
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温控范围
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-190～600℃ *
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RT～1200℃ *
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温度稳定性
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±0.1℃（＜600℃），±1℃（＞600℃）*
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温度分辨率
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0.1℃
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升降温速率
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0~30℃/min（可定点 / 程序段控温）
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温控方式
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PID
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温度传感器
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PT100
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热电偶
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光学特性
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光路
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反射 *
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X射线透射膜
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Kapton膜
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结构特性
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样品台尺寸
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23×23mm *
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12x12mm *
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样品台材质
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银质 *
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陶瓷 *
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外形尺寸
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100×100×73mm *
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腔室
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真空
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外壳冷却
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循环水
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基本配置
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XRD原位冷热台x1、温度控制器x1、致冷控制器x1（低温配置）、液氮罐x1（低温配置）、定制支架x1、温控软件x1、循环水系统x1、连接管路若干
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选配
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电脑主机/定制温控软件/定制光学盖板
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备注
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以上均为默认参数 * 为可定制项
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其他可选型号
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CH400-100-X（-100~400℃）
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产品应用：
搭配理学X射线衍射仪 ↓
搭配赛默飞X射线衍射仪 ↓
搭配布鲁克X射线衍射仪 ↓
